複数光学構成を1フレームのカメラで行う欠陥検査システム（ハイアングル反射と透過）

反射による表面欠陥と透過による製品内部の欠陥を検出および分類するための 2 つの光学構成

この検査ジオメトリでは、交互の照明光を使用して、ハイアングル反射検査と透過検査という 2 つの独立した測定を１つのカメラフレームで実行します。 どちらの検査も分離された光パルス中に実行されるため、ラインスキャンカメラベースの欠陥検査システムでよく見られる、透過反射併用による異なる光プロファイル間の干渉効果はありません。 1 台のスマート カメラが 2 つの照明フレームのパルスを制御します。紙のグレードに基づいて両方の検査のパルス持続時間を個別に調整できます。 2 つのプロファイル測定は、より高度で信頼性の高い欠陥分類のための優れた基盤を提供します。